以下是一些常見(jiàn)的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法：

　　1. 等價(jià)類劃分法：將測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分類，每個(gè)分類代表一組等價(jià)類，則每個(gè)等價(jià)類中的測(cè)試數(shù)據(jù)應(yīng)該有相同的預(yù)期結(jié)果。

　　2. 邊界值分析法：針對(duì)測(cè)試用例中的邊界值進(jìn)行測(cè)試，包括最大值、最小值和無(wú)窮大或無(wú)窮小等極端情況。

　　3. 錯(cuò)誤推測(cè)法：根據(jù)已知的錯(cuò)誤或故障，推斷可能存在的其他錯(cuò)誤或故障。

　　4. 因果圖法：通過(guò)繪制因果圖(Ishikawa Diagram)來(lái)找出引起問(wèn)題的根本原因，并進(jìn)行測(cè)試。

　　5. 判定表法：對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)的不同情況進(jìn)行抽象，形成判定表，并針對(duì)判定表中的各種組合進(jìn)行測(cè)試。

　　6. 基于經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試用例設(shè)計(jì)：基于以往測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，通過(guò)對(duì)系統(tǒng)的功能、性能、穩(wěn)定性等進(jìn)行分析，產(chǎn)生一些可能出現(xiàn)問(wèn)題的場(chǎng)景。

　　7. 狀態(tài)圖法：根據(jù)系統(tǒng)指定的狀態(tài)之間的轉(zhuǎn)換規(guī)則，生成狀態(tài)圖，并針對(duì)狀態(tài)之間的轉(zhuǎn)換進(jìn)行測(cè)試。

　　采用不同的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法可以幫助測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)不同類型的缺陷和問(wèn)題，提高軟件質(zhì)量和測(cè)試效率。